美光判定4F² DRAM无规模化路径,转向3D DRAM并披露1ε至ηÅ节点路线
摘要
美光在2026年度技术网络研讨会上表示,经二十多年探索,4F² DRAM因复杂度与成本问题缺乏可行规模化路径,公司转向3D DRAM。其1δ节点正处良率爬坡,1ε引入晶圆键合,ζÅ导入High NA EUV,ηÅ计划应用新材料。
美光在当地时间10月21日举行的2026年度技术网络研讨会上,对DRAM、泛HBM、NAND与SSD产品线作出展望,其中基础DRAM技术成为讨论重点。公司给出的判断是:经过二十多年的技术探索,4F² DRAM在复杂度与成本两方面均存在不足,未找到可行的规模化路径。
这一结论出现在传统2D 6F² DRAM尺寸收缩遭遇瓶颈的背景下。美光由此将3D DRAM确立为后续发展方向。行业内其他厂商的动向亦被提及:长鑫存储此前表示计划年内推出4F²混合键合DDR5 RDIMM,另有消息称三星电子已在首代亚10nm级DRAM上放弃4F²路线。
在具体节点规划上,美光第7代10nm级DRAM节点1δ已进入良率爬坡阶段;第8代10nm级节点1ε将引入晶圆键合技术;第1代亚10nm级节点ζÅ处于早期开发阶段,导入High NA EUV光刻;第2代亚10nm级节点ηÅ则正在寻路,计划应用新材料。
美光表示,1δ工艺可带来约25%的代际存储密度提升,同时具备优化的成本结构,该技术将广泛用于HBM5、vHBM、vEIM、LPDDR、DDR等产品。此外,公司称DRAM的CMOS逻辑电路也将实现3D化,从而带来显著的性能改进。
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